presentasi nanomaterial

7/25/2019 PRESENTASI NANOMATERIAL

1/13


2/13

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY (SEM)

SEMadalah salahsatu jenis mikroskopelektron yang

menggunakan berkaselektron untukmenggambar proflpermukaan benda.

Prinsip kerja SEMadalah menembakkanpermukaan benda

dengan berkas


3/13

Dalam SEM berkas elektron berenergi tinggimengenai permukaan material. Elektron pantulandan elektron sekunder dipancarkan kembalidengan sudut yang bergantung pada profl

permukaan material.


4/13

SEM memiliki resolusi yang lebih tinggi dibandingkan mikroskop

optik. Hal ini disebabkan oleh panjang gelombang de Broglie

yang dimiliki elektron lebih pendek daripada gelombang optik.

Makin kecil panjang gelombang yang digunakan maka makin

tinggi resolusi mikroskop.

Syarat agar SEM dapat menghasilkan citra yang tajam, yakni

permukaan benda harus bersifat sebagai pemantul elektron atau

dapat melepaskan elektron sekunder ketika ditembak dengan

berkas elektron. Material yang memiliki sifat demikian adalah

logam. Jika permukaanlogam diamati di bawah SEM maka profil

permukaan akan tampak dengan jelas.


5/13

Permukaan Isolator perlu dilapisi logam

agar dapat diamati dengan jelas di bawah

SEM.


6/13

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM)

TEM merupakan alat yang paling teliti yangdigunakan untuk menentukan ukuran partikelkarena resolusinya yang sangat tinggi. Partikeldengan ukuran beberapa nanometer dapat

diamati dengan jelas menggunakan TEM. ahkandengan high resolution TEM !"#$TEM% kita dapatmengamati posisi atom$atom dalam partikel.


7/13

Prinsip kerja TEM yaknisample yang sangat tipis

ditembak dengan berkaselectron yang berenergisangat tinggi !dipercepatpada tegangan ratusan k&%.erkas electron dapatmenembus bagian yang'lunak( sample tetapi ditahanoleh bagian keras sample!seperti partikel%. Detektor

yang berada di belakangsample menangkap berkaselectron yang lolos daribagian lunak sample.

)kibatnya detectormenan ka ba an an an


8/13

Ini adalah contoh *oto TEM

sample partikel dan

carbon nanotube. Dari

citra +,T tampak garis$

garis adalah barisan

atom$atom karbon yang

membentuk dinding

multiwall carbon

nanotube. -umlah lapisan

kulit dapat ditentukan

dengan mudah hanya

dengan menghitung


9/13

)TMI+ /#+E MI+#S+P0

Prinsip 1erja

)/M juga sangat sederhana dan dapat dipahami hanyadengan konsep$konsep fsika dasar. )/M memerlukan sistem2akum3 tegangan tinggi3 maupun *asilitas pendinginan padaSEM dan TEM.

+,T" 4)M)# 0),4 DI)M)TI


10/13

+,T" 4)M)# 0),4 DI)M)TI5E" )/M

Perangkat utama sebuah )/M adalahsebuah tip yang sangat tajam yangditempatkan di ujung cantile2er yangakan di gerakkan selama permukaanbenda yang teramati.

Dengan adanya tekstur

permukaan benda yang tidak ratamaka selama mengerakkan tip sudutkemiringan cantile2er berubah$ubah.Perubahan sudut tersebutmemberikan in*ormasi kealamantekstur permukaan benda.


11/13


12/13

1ESIMP65),

1arakterisasi sangat diperlukan untuk

memberi keyakinan bahwa kita telah berhasilmensintesis material dengan struktur

nanometer. 1arakterisasi juga akanmemberikan in*ormasi si*at$si*at material.In*ormasi si*at$si*at tersebut memberipeluang rekayasa material dalam skalananometer untuk menghasilkan si*at khas

yang berguna.


13/13

SEKIAN

&

TERIMA KASIH

presentasi nanomaterial

Documents