TUGAS KIMIA FISIKA SEMESTER PENDEK

Disusun Oleh : 1. Cahyo Purbo A 2. Fandi Rachman 3. Ki Bagus Teguh 4. Riski Nalendra Sukma 5. Usad Rodhiyatul Fadhilah (I0508067) 6. Yulia Kurniawati (I0508071)

UNIVERSITAS SEBELAS MARET SURAKARTA 2009 A. Pengertian Difraksi sinar X (X-ray Difractometer), atau yang sering dikenal dengan XRD, adalah merupakan instrumen yang digunakan untuk mengidentifikasi material kristalit maupun non-kristalit, sebagai contoh identifikasi struktur kristalit (kualitatif) dan fasa (kuantitatif) dalam suatu bahan dengan memanfaatkan radiasi gelombang elektromagnetik sinar X. Dengan kata lain, teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Bahan yang biasanya dianalisa adalah tanah halus (tanah liat) Dalam XRD, terdapat beberapa komponen, antara lain : 1. Slit dan film 2. Monokromator 3. Tabung X-ray 4. Detektor ; dll B. Prinsip kerja Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan kawat pijar untuk menghasilkan elektron-elektron, kemudian elektron-elektron tersebut dipercepat terhadap suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan menembak target dengan elektron. Ketika elektron-elektron mempunyai energi yang cukup untuk mengeluarkan elektron-elektron dalam target, karakteristik spektrum sinar-X dihasilkan. Spektrum ini terdiri atas beberapa komponen-komponen, yang paling umum adalah Ka dan K. Ka berisi, pada sebagian, dari Ka1 dan Ka2. Ka1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua kali lebih intensitas dari Ka2. Panjang gelombang yang spesifik merupakan karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr). Disaring, oleh kertas perak atau kristal monochrometers, yang akan menghasilkan sinar- X monokromatik yang diperlukan untuk difraksi. Tembaga adalah bahan sasaran yang paling umum untuk diffraction kristal tunggal, dengan radiasi Cu Ka =05418. Sinar-X ini bersifat collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor diputar, intensitas Sinar X pantul itu direkam. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X tersebut memenuhi persamaan Bragg, interferens konstruktif terjadi dan suatu puncak di dalam intensitas terjadi. Detektor akan merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan dikeluarkan pada printer atau layar komputer.

Petunjuk penggunaaan, penyiapan sample Ambil sepersepuluh berat sample (murni lebih baik) Gerus sample dalam bentuk bubuk. Ukuran kurang dari ~10 m Letakkan dalam sample holder Harus diperhatikan agar mendapatkan permukaan yang datar dan mendapatkan distribusi acak dari orientasi-orientasi kisi Untuk analisa dari tanah liat yang memerlukan single orientasi, teknik- teknik yang khusus untuk persiapan tanah liat telah diberikan oleh USGS

C. Macam X-ray Difraktometer D.